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TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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41 artículos asociados

Volumen 48 Número 1 Parte 0 Año 2006

Ray, Bonnie K.; Liu, Zhaohui; Ravishanker, Nalini
Pág. 1 - 10  

Field, Christopher; Genton, Marc G.
Pág. 104 - 111  

Pascual, Francis G.
Pág. 11 - 25  

Bhaumik, Dulal Kumar; Gibbons, Robert David
Pág. 112 - 119  

Ghosh, Anil K.; Chaudhuri, Probal; Sengupta, Debasis
Pág. 120 - 132  

Remlinger, Katja S.; Hughes-Oliver, Jacqueline M.; Young, S. Stanley; Lam, Raymond L.
Pág. 133 - 143  

Gatliffe, Thomas R.
Pág. 145 - 145  

McCormack, D.W.
Pág. 145 - 146  

Liang, Faming; Huang, Jianhua
Pág. 146 - 146  

Picka, Jeffrey D.
Pág. 146 - 147  

Deng, Lih-Yuan
Pág. 147 - 148  

Singh, Ashok K.
Pág. 148 - 148  

Liu, Shin Ta
Pág. 148 - 149  

Ziegel, Eric R.
Pág. 149 - 149  

Goldstein, Richard
Pág. 149 - 150  

Lipovetsky, Stan
Pág. 150 - 151  

Hornikova, Adriana
Pág. 151 - 151  

Annis, Charles
Pág. 151 - 152  

Chow, Mosuk
Pág. 152 - 152  

Altland, Henry W.
Pág. 153 - 153  

Mazu, Michael J.
Pág. 153 - 154  

Breneman, James E.
Pág. 154 - 154  

Pág. 155 - 155  

Pág. 156 - 157  

Pág. 156 - 156  

Pág. 156 - 156  

Pág. 157 - 157  

Pág. 157 - 157  

Pág. 158 - 158  

Pág. 158 - 158  

Pág. 159 - 159  

Pág. 159 - 159  

Pág. 160 - 160  

Jeong, Myong K.; Lu, Jye-Chyi; Huo, Xiaoming; Vidakovic, Brani; Di Chen,
Pág. 26 - 40  

McCool, John I.
Pág. 41 - 48  

Zhang, Yao; Meeker, William Q.
Pág. 49 - 60  

Pág. 59 - 160  

Sánchez, Ismael
Pág. 61 - 73  

Ramdani, Nacim; Candau, Yves; Guyon, Gilles; Dalibart, Christophe
Pág. 74 - 87  

Chakraborti, S.; Hong, B.; van de Wiel, M.A.
Pág. 88 - 94  

Zhang, Jin
Pág. 95 - 103