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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

ISSN: 0034-6748   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

52 artículos asociados

Volumen 72 Número 8 Parte 0 Año 2001

Bayard, J.; Ayachi, M.
Pág. 3480  

Wade, S. A.; Forsyth, D. I.; Grattan, K. T. V.; Guofu, Q.
Pág. 3186 - 3190  

Agui, A.; Yoshigoe, A.; Nakatani, T.; Matsushita, T.; Saitoh, Y.; Yokoya, A
Pág. 3191 - 3197  

Qian, Shinan; Takacs, Peter; Sostero, Giovanni; Cocco, Daniele
Pág. 3198 - 3204  

Warntjes, J. B. M.; Gu¨rtler, A.; Osterwalder, A.; Rosca-Pruna, F.;
Pág. 3205 - 3207  

Bienfang, Joshua C.; Teehan, Russell F.; Denman, Craig A.
Pág. 3208 - 3214  

Wostyn, Kurt; Binnemans, Koen; Clays, Koen; Persoons, Andre´
Pág. 3215 - 3220  

Shibata, Yukio; Sasaki, Satoshi; Ishi, Kimihiro; Takahashi, Toshiharu; Matsu
Pág. 3221 - 3224  

Wurz, Peter; Schletti, Reto
Pág. 3225 - 3229  

Rodriguez, G.; Roberts, J. P.; Echave, J. A.; Taylor, A. J.
Pág. 3230 - 3236  

Hamabe, M.; Takeiri, Y.; Ikeda, K.; Oka, Y.; Osakabe, M.; Tsumori, K.; Asa
Pág. 3237 - 3244  

Offerhaus, H. L.; Nicole, C.; Le´pine, F.; Bordas, C.; Rosca-Pruna,
Pág. 3245 - 3248  

Takahashi, H.; Sakakibara, S.; Kubota, Y.; Yamada, H.
Pág. 3249 - 3259  

Godfrey, Anna R.; Ullal, Saurabh J.; Braly, Linda B.; Edelberg, Erik A.; Vah
Pág. 3260 - 3269  

Soukhanovskii, V. A.; Stutman, D.; Finkenthal, M.; Moos, H. W.; Kaita, R.;
Pág. 3270 - 3276  

Peng, Q.; Groebner, R. J.; Lao, L. L.; Schachter, J.; Schissel, D. P.; Wade
Pág. 3277 - 3280  

Fleet, E. F.; Chatraphorn, S.; Wellstood, F. C.; Knauss, L. A.; Green, S. M.
Pág. 3281 - 3290  

Sanchez del Rio, M.; Alianelli, L.; Pikuz, T. A.; Faenov, A. Ya.
Pág. 3291 - 3303  

Cain, Robert G.; Reitsma, Mark G.; Biggs, Simon; Page, Neil W.
Pág. 3304 - 3312  

Beaulieu, L. Y.; Cumyn, V. K.; Eberman, K. W.; Krause, L. J.; Dahn, J. R.
Pág. 3313 - 3319  

Schitter, G.; Menold, P.; Knapp, H. F.; Allgo¨wer, F.; Stemmer, A.
Pág. 3320 - 3327  

Vopilkin, E. A.; Panin, A. N.; Parafin, A. E.; Pavlov, S. A.
Pág. 3328 - 3331  

Garcı´a-Va´zquez, Valentı´n; Pe´rez-A
Pág. 3332 - 3339  

Orita, M.; Ohta, H.; Hiramatsu, H.; Hirano, M.; Den, S.; Sasaki, M.; Katag
Pág. 3340 - 3343  

Matz, W.; Schell, N.; Neumann, W.; Bøttiger, J.; Chevallier, J.
Pág. 3344 - 3348  

van Lierop, J.; Ryan, D. H.
Pág. 3349 - 3356  

Liu, Xiao-Jing; Zhu, Lin-Fan; Jiang, Xi-Man; Yuan, Zhen-Sheng
Pág. 3357 - 3361  

Grzelakowski, K.; Man, K. L.; Altman, M. S.
Pág. 3362 - 3365  

Mu¨ller, B.; Renz, U.
Pág. 3366 - 3374  

DeBoer, Gary; Patel, Piyush; Prince, Amy Preszler; Young, Mark A.
Pág. 3375 - 3379  

Zheng, F.; Qu, X.; Davis, E. J.
Pág. 3380 - 3385  

Rohrbacher, Andreas; Continetti, Robert E.
Pág. 3386 - 3389  

Xinglong, Yu; Xiwen, Zhang; Yuan, Wang; Junshi, Xie; Pengfei, Hao
Pág. 3390 - 3395  

Vinogradov, Sergei A.; Fernandez-Searra, Maria A.; Dugan, Benjamin W.; Wi
Pág. 3396 - 3406  

Bigelow, Chad E.; Harkrider, Curtis J.; Conover, David L.; Foster, Thomas H.;
Pág. 3407 - 3410  

Cannella, M.; Marinozzi, F.
Pág. 3411 - 3417  

Bezboruah, Tulshi
Pág. 3418 - 3421  

Kumar, R. Anil; Suresh, M. S.; Nagaraju, J.
Pág. 3422 - 3426  

Khazan, Max; Meissner, Reinhold; Wilke, Ingrid
Pág. 3427 - 3430  

Acharya, Y. B.
Pág. 3431 - 3434  

Choi, Dong-June; Kim, Soo Hyun
Pág. 3435 - 3439  

Wang, Ming; Lai, Guanming
Pág. 3440 - 3445  

Guillaume, D. W.; Jolly, J. L.
Pág. 3446 - 3448  

O'Reilly, Paul G.; Kee, Robert J.; Fleck, Robert; McEntee, Paul T.
Pág. 3449 - 3457  

Fokine, M.
Pág. 3458 - 3461  

Murphy, T. P.; Palm, E. C.; Peabody, L.; Tozer, S. W.
Pág. 3462 - 3466  

Aplin, K. L.; Harrison, R. G.
Pág. 3467 - 3469  

Lim, Hyung-Jun; Lim, Young-Mo; Kim, Soo Hyun
Pág. 3470 - 3472  

Leneman, D.; Gekelman, W.
Pág. 3473 - 3474  

Pramann, Axel; Rademann, Klaus
Pág. 3475 - 3476  

Ebert, M.; Aspnes, D. E.
Pág. 3477 - 3479  

Weeks, Brandon L.; Klosterman, John; Worsey, Paul N.
Pág. 3482 - 3484