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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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25 artículos asociados

Volumen 47 Número 2 Parte 0 Año 1998

Evans, R A
Pág. 105 - 105  

Pág. 106 - 106  

Pág. 107 - 107  

Pág. 107 - 107  

Sherwin, D
Pág. 108 - 109  

Sinnadurai, N; Shukla, A; Pecht, M
Pág. 110 - 113  

Meeker Jr, W; Escobar, L
Pág. 114 - 118  

Mittereder, J; Roussos, J; Christianson, K; Anderson, W
Pág. 119 - 125  

Kher, S; Bubel, G
Pág. 126 - 130  

Khamis, I; Higgins, J
Pág. 131 - 134  

Bosc, J; Guo, Y; Sarihan, V; Lee, T
Pág. 135 - 141  

Xiong, C
Pág. 142 - 146  

McNamer, M; Kanopoulos, N
Pág. 147 - 154  

Chang-Liao, K; Feng, K
Pág. 155 - 158  

Cancela, H; Khadiri, M El
Pág. 159 - 164  

Levitin, G; Lisnianski, A; Ben-Haim, H; Elmakis, D
Pág. 165 - 172  

Vaurio, J
Pág. 173 - 180  

Brunelle, R; Kapur, K
Pág. 181 - 187  

Hirose, H
Pág. 188 - 196  

Ebrahimi, N
Pág. 197 - 201  

Evans, R A
Pág. 202 - 202  

Pág. 203 - 203  

Pág. 203 - 203  

Pág. 204 - 206  

Pág. 207 - 207