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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
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Vol: 47 Núm: 2 Par: 0 (1998)
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TITULO
TUTORIAL & REVIEW - Pitfalls of accelerated testing
Meeker Jr
W
Escobar
L
Resumen
No disponible
PÁGINAS
pp. 114 - 118
NÚMERO
Volumen: 47 Número: 2 Parte: 0 (1998)
MATERIAS
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Acceso
Haykin, Simon
Pág. 106 - 114
Revista:
IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE
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