REVISTA

IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

12 artículos asociados

Volumen 49 Número 3 Parte 0 Año 2000

Evans, R A
Pág. 249 - 249  

Evans, R A
Pág. 250 - 250  

LaForge, L E
Pág. 251 - 272  

Shirvani, P P; Saxena, N; McCluskey, E J
Pág. 273 - 284  

Mitra, S; Saxena, N R; McCluskey, E J
Pág. 285 - 295  

Lach, J; Mangione-Smith, W H; Potkonjak, M
Pág. 296 - 304  

Keymeulen, D; Zebulum, R S; Jin, Y; Stoica, A
Pág. 305 - 316  

Plait, A O
Pág. 317 - 318  

Healy, J D
Pág. 319 - 321  

Traldi, L
Pág. 322 - 322  

Prasad, V R; Kuo, W
Pág. 323 - 330  

Pág. 331 - 331