REVISTA

IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE

ISSN: 0162-8828   Frecuencia: 12   Formato: Impresa

Tablas de contenido  

10 artículos asociados

Volumen 22 Número 6 Parte 0 Año 2000

Bowyer, K
Pág. 553 - 553  

Zhu, S C; Liu, X W; Wu, Y N
Pág. 554 - 569  

Liu, C; Wechsler, H
Pág. 570 - 582  

Jacobs, D W; Weinshall, D; Gdalyahu, Y
Pág. 583 - 600  

Stanford, D C; Raftery, A E
Pág. 601 - 609  

Lu, C-P; Hager, G D; Mjolsness, E
Pág. 610 - 622  

Lotlikar, R; Kothari, R
Pág. 623 - 627  

Myers, R; Wilson, R C; Hancock, E R
Pág. 628 - 635  

Liu, C-L; Nakagawa, M
Pág. 636 - 641  

Cohen, F S; Ibrahim, W; Pintavirooj, C
Pág. 642 - 642