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Modeling and Evaluating Repeatability and Reproducibility of Ordinal Classifications

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Jeroen de Mast, Wessel N. van Wieringen Pág. 94 - 106

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 1 Par: 0 Año: 2010

Nonrepeatable Gauge R&R Studies Assuming Temporal or Patterned Object Variation

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FRANK VAN DER MEULEN, HENK DE KONING, and JEROEN DE MAST

Revista: JOURNAL OF QUALITY TECHNOLOGY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 41 Num: 4 Par: 0 Año: 2009

Measurement System Analysis for Binary Data

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Wessel N. van Wieringen, Jeroen de Mast Pág. 468 - 478

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 4 Par: 0 Año: 2008

The Science in Six Sigma (

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Jeroen de Mast, senior consultant and associate professor, Institute for Business and Industrial Statistics, University of Amsterdam

Revista: QUALITY PROGRESS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 40 Num: 0 Par: 0 Año: 2007

After Six Sigma -- What''s Next?

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Bisgaard, Soren, Mast, Jeroen de Pág. 30 - 36

Revista: QUALITY PROGRESS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 39 Num: 1 Par: 0 Año: 2006

Gauge R&R Studies for Destructive Measurements

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JEROEN DE MAST AND ALBERT TRIP Pág. -

Revista: JOURNAL OF QUALITY TECHNOLOGY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 37 Num: 1 Par: 0 Año: 2005

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