REVISTA

TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706 Frecuencia: 4 Formato: Impresa

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8 artículos asociados

Volumen 50 Número 4 Parte 0 Año 2008

Robust Target Localization From Binary Decisions in Wireless Sensor Networks	Solicitud
Natallia Katenka, Elizaveta Levina, George Michailidis
Pág. 448 - 461

Length Bias in the Measurements of Carbon Nanotubes	Solicitud
Paul Kvam
Pág. 462 - 467

Measurement System Analysis for Binary Data	Solicitud
Wessel N. van Wieringen, Jeroen de Mast
Pág. 468 - 478

A Method for Designing Nonlinear Univariate Calibration	Solicitud
Johannes Forkman
Pág. 479 - 486

Robust Multivariate Tolerance Regions: Influence Function and Monte Carlo Study	Solicitud
Graciela Boente, Andrés Farall
Pág. 487 - 500

An Empirical Approximation to the Null Unbounded Steady-State Distribution of the Cumulative Sum Statistic	Solicitud
O. A. Grigg, D. J. Spiegelhalter
Pág. 501 - 511

Monitoring Profiles Based on Nonparametric Regression Methods	Solicitud
Changliang Zou, Fugee Tsung, Zhaojun Wang
Pág. 512 - 526

Sequential Experiment Design for Contour Estimation From Complex Computer Codes	Solicitud
Pritam Ranjan, Derek Bingham, George Michailidis
Pág. 527 - 541