3   Artículos

Length Bias in the Measurements of Carbon Nanotubes

Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 4 Par: 0 Año: 2008

A parametric mixture-model for common-cause failure data

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 47 Num: 1 Par: 0 Año: 1998