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CHRISTIAN H. WEISS and MURAT CANER TESTIK    
Revista: JOURNAL OF QUALITY TECHNOLOGY    Formato: Impreso

 
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A. Lehnert, P. Buluschek, N. Weiss, J. Giesecke, M. Treier, S. Rusponi, and H. Brune    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Allen M. Weiss, Nicholas H. Lurie, and Deborah J. MacInnis    
Revista: JOURNAL OF MARKETING RESEARCH    Formato: Impreso

 
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Burleigh, S. Hooke, A. Torgerson, L. Fall, K. Cerf, V. Durst, B. Scott, K. Weiss, H.     Pág. 128 - 137
Revista: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE    Formato: Impreso

 
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Widenfeld, G. Weiss, Y. Kalman, H.     Pág. 15 - 22
Revista: POWDER TECHNOLOGY    Formato: Impreso

 
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Kulawik, M. Nowicki, M. Thielsch, G. Cramer, L. Rust, H.-P. Freund, H.-J. Pearl, T. P. Weiss, P. S.     Pág. 1027 - 1030
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Weiss, J.; Knauss, H.; Wagner, S.     Pág. 1904 - 1909
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

 
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Weiss, M D; Raab, F H; Popovic, Z     Pág. 1174 - 1179

 
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Cheng, Betty H C; Weiss, David M     Pág. 18 - 20
Revista: IEEE SOFTWARE    Formato: Impreso

 
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Townley, S; Ilchmann, A; Weiss, M G; Mcclements, W; Ruiz, A C; Owens, D H;     Pág. 205 - 214
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON NEURAL NETWORK    Formato: Impreso

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