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Ricardo A. Maronna     Pág. 44 - 53
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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Maronna, R.A.; Yohai, V.J.     Pág. 295 - 304
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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Maronna, Ricardo     Pág. 264 - 273
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

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