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TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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11 artículos asociados

Volumen 50 Número 3 Parte 0 Año 2008

Brettschneider, J.; Collin, F.; Bolstad, B.M.; Speed, T.P.
Pág. 241 - 264  

Epifanio, I.
Pág. 284 - 294  

Maronna, R.A.; Yohai, V.J.
Pág. 295 - 304  

Fang, Y.; Jeong, M.K.
Pág. 305 - 316  

Fokianos, K.; Savvides, A.
Pág. 317 - 331  

Shan, X.; Apley, D.W.
Pág. 332 - 343  

Zou, C.; Tsung, F.; Liu, Y.
Pág. 344 - 356  

Capizzi, G.; Masarotto, G.
Pág. 357 - 370  

Mee, R.W.; Xiao, J.
Pág. 371 - 382  

Qian, P.Z.G.; Wu, H.; Wu, C.F.J.
Pág. 383 - 396  

Dalal, S.R.; Mallows, C.L.
Pág. 397 - 406