2 Artículos

Extraction of a Nonlinear AC FET Model Using Small-Signal S-Parameters

Solicitud

usuarios registrados

Vuolevi, J. H. K. Rahkonen, T. Pág. 1311 - 1315

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 5 Par: 0 Año: 2002

MINI-SPECIAL ISSUE PAPERS - Measurement Technique for Characterizing Memory Effects in RF Power Amplifiers

Solicitud

usuarios registrados

Vuolevi, J H K; Rahkonen, T; Manninen, J P A Pág. 1383 - 1389

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 49 Num: 8 Par: 0 Año: 2001

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »