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Quantitative model for near-field scanning microwave microscopy: Application to metrology of thin film dielectrics

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Alexander N. Reznik and Vladimir V. Talanov

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 11 Par: 0 Año: 2008

Near-field microwave microscope with improved sensitivity and spatial resolution

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Tselev, A. Anlage, S. M. Christen, H. M. Moreland, R. L. Talanov, V. V. Schwartz, A. R. Pág. 3167 - 3170

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 6 Par: 0 Año: 2003

Measurement of the absolute penetration depth and surface resistance of superconductors and normal metals with the variable spacing parallel plate resonator

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Talanov, Vladimir V.; Mercaldo, Lucia V.; Anlage, Steven M.; Claassen, John H Pág. 2136 - 2146

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 71 Num: 5 Par: 0 Año: 2000

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