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Characteristics of fritting contacts utilized for micromachined wafer probe cards

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Itoh, Toshihiro; Suga, Tadatomo; Engelmann, Gunter; Wolf, Ju¨rgen; Ehrm Pág. 2224 - 2227

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 71 Num: 5 Par: 0 Año: 2000

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