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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 71 Núm: 5 Par: 0 (2000) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Characteristics of fritting contacts utilized for micromachined wafer probe cards

Itoh

Toshihiro

Suga

Tadatomo

Engelmann

Gunter

Wolf

Ju¨

rgen

Ehrm

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 2224 - 2227

NÚMERO

Volumen: 71 Número: 5 Parte: 0 (2000)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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