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DISTRIBUTIONS - PROBABILITY AND STATISTICAL-INFERENCE - A failure-time model for infant-mortality and wearout failure-modes
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Chan, V; Meeker Jr, W
Pág. 377 - 387
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
Formato:
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Tabla de contenido:
Vol: 48 Num: 4 Par: 0 Año: 1999
TUTORIAL & REVIEW - Pitfalls of accelerated testing
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Meeker Jr, W; Escobar, L
Pág. 114 - 118
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 47 Num: 2 Par: 0 Año: 1998
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