2 Artículos

Near-field microwave microscope with improved sensitivity and spatial resolution

Solicitud

usuarios registrados

Tselev, A. Anlage, S. M. Christen, H. M. Moreland, R. L. Talanov, V. V. Schwartz, A. R. Pág. 3167 - 3170

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 6 Par: 0 Año: 2003

Measurement of the absolute penetration depth and surface resistance of superconductors and normal metals with the variable spacing parallel plate resonator

Solicitud

usuarios registrados

Talanov, Vladimir V.; Mercaldo, Lucia V.; Anlage, Steven M.; Claassen, John H Pág. 2136 - 2146

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 71 Num: 5 Par: 0 Año: 2000

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »