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Calibration scheme for three-dimensional particle tracking with a prismatic light

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Matsushita, H. Mochizuki, T. Kaji, N. Pág. 541 - 545

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 2 Par: 0 Año: 2004

Evaluation of surface and subsurface cracks in nanoscale-machined single-crystal silicon by scanning force microscope and scanning laser microscope

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Sumomogi, T. Nakamura, M. Endo, T. Goto, T. Kaji, S. Pág. 141 - 146

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2002

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