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Understanding the crystallography of the eutectoid microstructure in a Zn¿Al alloy using the edge-to-edge matching model

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M.-X. Zhang and P.M. Kelly Pág. 577 - 580

Revista: SCRIPTA MATERIALIA Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 55 Num: 7 Par: Año: 2006

Application of edge-to-edge matching model to understand the in-plane texture of TiSi2 (C49) thin films on (001)Si surface

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M.-X. Zhang and P.M. Kelly Pág. 613 - 616

Revista: SCRIPTA MATERIALIA Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 55 Num: 7 Par: Año: 2006

Determination of retained austenite using an X-ray texture goniometer

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Zhang M. X. Kelly P. M. Bekessy L. K. Gates J. D. Pág. 39 - 49

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 45 Num: 1 Par: 0 Año: 2000

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