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Inicio  /  SCRIPTA MATERIALIA  /  Vol: 55 Núm: 7 (2006)  /  Artículo
ARTÍCULO
TITULO

Application of edge-to-edge matching model to understand the in-plane texture of TiSi2 (C49) thin films on (001)Si surface

M.-X. Zhang and P.M. Kelly    

Resumen

No disponible

PÁGINAS
pp. 613 - 616