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$G$-Band Distributed Microelectromechanical Components Based on CMOS Compatible Fabrication
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Vaha-Heikkila, T.; Ylonen, M.
Pág. 720 - 728
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 56 Num: 3 Par: 0 Año: 2008
On-Wafer Noise-Parameter Measurements at W-Band
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Vaha-Heikkila, T. Lahdes, M. Kantanen, M. Tuovinen, J.
Pág. 1621 - 1628
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 51 Num: 6 Par: 0 Año: 2003
A Wide-Band On-Wafer Noise Parameter Measurement System at 50-75 GHz
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usuarios registrados
Kantanen, M. Lahdes, M. Vaha-Heikkila, T. Tuovinen, J.
Pág. 1489 - 1495
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 51 Num: 5 Par: 0 Año: 2003
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