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IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES / Vol: 51 Núm: 6 Par: 0 (2003) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

On-Wafer Noise-Parameter Measurements at W-Band

Vaha-Heikkila

T. Lahdes

M. Kantanen

M. Tuovinen

J.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 1621 - 1628

NÚMERO

Volumen: 51 Número: 6 Parte: 0 (2003)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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