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Minimizing image-processing artifacts in scanning tunneling microscopy using linear-regression fitting

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Daniel P. Fogarty, Amanda L. Deering, Song Guo, Zhongqing Wei, Natalie A. Kautz, and S. Alex Kandel

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 77 Num: 12 Par: 0 Año: 2006

Minimizing image-processing artifacts in scanning tunneling microscopy using linear

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Daniel P. Fogarty, Amanda L. Deering, Song Guo, Zhongqing Wei, Natalie A. Kautz, and S. Alex Kandel

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 77 Num: 12 Par: 0 Año: 2006

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