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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 77 Núm: 12 Par: 0 (2006) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Minimizing image-processing artifacts in scanning tunneling microscopy using linear-regression fitting

Daniel P. Fogarty

Amanda L. Deering

Song Guo

Zhongqing Wei

Natalie A. Kautz

and S. Alex Kandel

Resumen

No disponible

PÁGINAS

NÚMERO

Volumen: 77 Número: 12 Parte: 0 (2006)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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