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On-Wafer Noise-Parameter Measurements at W-Band

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Vaha-Heikkila, T. Lahdes, M. Kantanen, M. Tuovinen, J. Pág. 1621 - 1628

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 6 Par: 0 Año: 2003

A Wide-Band On-Wafer Noise Parameter Measurement System at 50-75 GHz

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Kantanen, M. Lahdes, M. Vaha-Heikkila, T. Tuovinen, J. Pág. 1489 - 1495

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 5 Par: 0 Año: 2003

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