AVANZADA

1 Artículos

Sensitive inspection of void defects using synchrotron refraction imaging with quantitative modelling of contrast enhancement

Solicitud

usuarios registrados

K Imamura, Y Inada, N Ehara, K Umetani and Y Nakajima Pág. 12

Revista: INSIGHT Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 1 Par: 0 Año: 2009

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »