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Inicio / INSIGHT / Vol: 51 Núm: 1 Par: 0 (2009) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

Sensitive inspection of void defects using synchrotron refraction imaging with quantitative modelling of contrast enhancement

K Imamura

Y Inada

N Ehara

K Umetani and Y Nakajima

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 12

NÚMERO

Volumen: 51 Número: 1 Parte: 0 (2009)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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