AVANZADA

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Modeling and Evaluating Repeatability and Reproducibility of Ordinal Classifications

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Jeroen de Mast, Wessel N. van Wieringen Pág. 94 - 106

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 1 Par: 0 Año: 2010

Measurement System Analysis for Binary Data

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Wessel N. van Wieringen, Jeroen de Mast Pág. 468 - 478

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 4 Par: 0 Año: 2008

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