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A compact UHV deposition system for in situ study of ultrathin films via hard x-ray scattering and spectroscopy

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Sebastien Couet, Thomas Diederich, Kai Schlage, and Ralf Röhlsberger

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 79 Num: 9 Par: 0 Año: 2008

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