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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS

Inicio / REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS / Vol: 79 Núm: 9 Par: 0 (2008) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

A compact UHV deposition system for in situ study of ultrathin films via hard x-ray scattering and spectroscopy

Sebastien Couet

Thomas Diederich

Kai Schlage

and Ralf Röhlsberger

Resumen

No disponible

PÁGINAS

NÚMERO

Volumen: 79 Número: 9 Parte: 0 (2008)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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