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Fatigue Crack Length Measurement of Sputtered Metal Film for RFID-based Smart Stress Memory Patch 1480-1486
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Takayuki Shiraiwa and Manabu Enoki
Pág. 1480 - 1486
Revista:
ISIJ INTERNATIONAL
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 51 Num: 9 Par: 0 Año: 2011
Scattering in Fatigue Crack Growth of Thin Pure Copper Sheet for Smart Stress Memory Patch
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Shoichi NAMBU and Manabu ENOKI
Pág. 1687
Revista:
ISIJ INTERNATIONAL
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 47 Num: 11 Par: 0 Año: 2007
Evaluation of dynamic fracture toughness of welding heat-affected zone of structural steel
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Hai Qiu,Manabu Enoki,Yoshiaki Kawaguchi and Teruo Kishi
Revista:
ISIJ INTERNATIONAL
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 40 Num: suppl Par: 0 Año: 2000
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