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On-the-Fly Machine Learning for Improving Image Resolution in Tomography

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Allard A. Hendriksen, Daniël M. Pelt, Willem Jan Palenstijn, Sophia B. Coban and Kees Joost Batenburg

Computationally improving the resolution of laboratory X-ray CT scanners.

Revista: Applied Sciences Formato: Electrónico

Tabla de contenido: Vol: 9 Num: 0 Par: 12 Año: 2019

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