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Buyya, R.; Abramson, D.; Venugopal, S.     Pág. 698 - 714
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

 
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Rajkumar Buyya, Manzur Murshed, David Abramson, Srikumar Venugopal     Pág. 491 - 512
Revista: SOFTWARE, PRACTICE & EXPERIENCE    Formato: Impreso

 
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Sherwani, J. Ali, N. Lotia, N. Hayat, Z. Buyya, R.     Pág. 573 - 590
Revista: SOFTWARE, PRACTICE & EXPERIENCE    Formato: Impreso

 
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Sulistio, A. Yeo, C. S. Buyya, R.     Pág. 653 - 674
Revista: SOFTWARE, PRACTICE & EXPERIENCE    Formato: Impreso

 
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Krauter, K; Buyya, R; Maheswaran, M     Pág. 135 - 164
Revista: SOFTWARE, PRACTICE & EXPERIENCE    Formato: Impreso

 
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Baker, M. Buyya, R. Laforenza, D.     Pág. 1437 - 1466
Revista: SOFTWARE, PRACTICE & EXPERIENCE    Formato: Impreso

 
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Buyya, R     Pág. 723 - 740
Revista: SOFTWARE, PRACTICE & EXPERIENCE    Formato: Impreso

 
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Baker, M; Buyya, R     Pág. 551 - 551
Revista: SOFTWARE, PRACTICE & EXPERIENCE    Formato: Impreso

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