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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
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Vol: 51 Núm: 4 Par: 0 (2002)
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ARTÍCULO
TITULO
Electromigration Reliability Issues in Dual-Damascene Cu Interconnections
Ogawa
E. T. Lee
K.-D. Blaschke
V. A. Ho
P. S.
Resumen
No disponible
PÁGINAS
pp. 403 - 419
NÚMERO
Volumen: 51 Número: 4 Parte: 0 (2002)
MATERIAS
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