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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
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Vol: 47 Núm: 4 Par: 0 (1998)
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ARTÍCULO
TITULO
COMMENTARY & PERSPECTIVE - Reply to: A critique of the RAC failure-rate-model for plastic encapsulated microcircuits
Denson
W
Resumen
No disponible
PÁGINAS
pp. 419 - 424
NÚMERO
Volumen: 47 Número: 4 Parte: 0 (1998)
MATERIAS
INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL
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