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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
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Vol: 49 Núm: 3 Par: 0 (2000)
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Artículo
ARTÍCULO
TITULO
SPECIAL SECTION -- FAULT-TOLERANT VLSI SYSTEMS - PAPERS - Commentary and Perspective - Commentary -- Software: Metrics Mentality versus Statistical Mentality
Healy
J D
Resumen
No disponible
PÁGINAS
pp. 319 - 321
NÚMERO
Volumen: 49 Número: 3 Parte: 0 (2000)
MATERIAS
INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL
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