In situ positioning of a few hundred micrometer-sized cleaved surfaces for soft-x-ray angle-resolved photoemission spectroscopy by use of an optical microscope

Takayuki Muro

Yukako Kato

Tomohiro Matsushita

Toyohiko Kinoshita

Yoshio Watanabe

Akira Sekiyama

Hiroshi Sugiyama

Masato Kimura

Satoshi Komori

Shigemasa Suga

Hiroyuki Okazaki

and Takayoshi Yokoya

Resumen

No disponible

PÁGINAS

NÚMERO

Volumen: 80 Número: 5 Parte: 0 (2009)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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