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In situ positioning of a few hundred micrometer-sized cleaved surfaces for soft-x-ray angle-resolved photoemission spectroscopy by use of an optical microscope
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Takayuki Muro, Yukako Kato, Tomohiro Matsushita, Toyohiko Kinoshita, Yoshio Watanabe, Akira Sekiyama, Hiroshi Sugiyama, Masato Kimura, Satoshi Komori, Shigemasa Suga, Hiroyuki Okazaki, and Takayoshi Yokoya
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 80 Num: 5 Par: 0 Año: 2009
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