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ARTÍCULO
TITULO

Calibrated nanoscale capacitance measurements using a scanning microwave microscope

H. P. Huber    
M. Moertelmaier    
T. M. Wallis    
C. J. Chiang    
M. Hochleitner    
A. Imtiaz    
Y. J. Oh    
K. Schilcher    
M. Dieudonne    
J. Smoliner    
P. Hinterdorfer    
S. J. Rosner    
H. Tanbakuchi    
P. Kabos    
and F. Kienberger    

Resumen

No disponible

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