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Calibrated nanoscale capacitance measurements using a scanning microwave microscope

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H. P. Huber, M. Moertelmaier, T. M. Wallis, C. J. Chiang, M. Hochleitner, A. Imtiaz, Y. J. Oh, K. Schilcher, M. Dieudonne, J. Smoliner, P. Hinterdorfer, S. J. Rosner, H. Tanbakuchi, P. Kabos, and F. Kienberger

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 11 Par: 0 Año: 2010

Versatile apparatus for attosecond metrology and spectroscopy

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M. Fieß, M. Schultze, E. Goulielmakis, B. Dennhardt, J. Gagnon, M. Hofstetter, R. Kienberger, and F. Krausz

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 9 Par: 0 Año: 2010

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