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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
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REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
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Vol: 82 Núm: 2 Par: 0 (2011)
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ARTÍCULO
TITULO
Aspect-ratio and lateral-resolution enhancement in force microscopy by attaching nanoclusters generated by an ion cluster source at the end of a silicon tip
L. Martínez
M. Tello
M. Díaz
E. Román
R. Garcia
and Y. Huttel
Resumen
No disponible
PÁGINAS
pp. 0 - 0
NÚMERO
Volumen: 82 Número: 2 Parte: 0 (2011)
MATERIAS
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