AVANZADA

1 Artículos

Aspect-ratio and lateral-resolution enhancement in force microscopy by attaching nanoclusters generated by an ion cluster source at the end of a silicon tip

Solicitud

usuarios registrados

L. Martínez, M. Tello, M. Díaz, E. Román, R. Garcia, and Y. Huttel

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 82 Num: 2 Par: 0 Año: 2011

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »