REVISTA
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

Inicio / IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY / Vol: 51 Núm: 1 Par: 0 (2002) / Artículo

ARTÍCULO

TITULO

The EFTOS Approach to Dependability in Embedded Supercomputing

Deconinck

G. De Florio

V. Varvarigou

T. Verentziotis

E.

Resumen

No disponible

PÁGINAS

pp. 76 - 90

NÚMERO

Volumen: 51 Número: 1 Parte: 0 (2002)

MATERIAS

INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL

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