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The EFTOS Approach to Dependability in Embedded Supercomputing

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Deconinck, G. De Florio, V. Varvarigou, T. Verentziotis, E. Pág. 76 - 90

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 1 Par: 0 Año: 2002

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