Revistas
Artículos
Publicaciones
Documentos
REVISTA
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
TODAS
Redirigiendo al acceso original de articulo en
23
segundos...
Inicio
/
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
/
Vol: 49 Núm: 3 Par: 0 (2000)
/
Artículo
ARTÍCULO
TITULO
SPECIAL SECTION -- FAULT-TOLERANT VLSI SYSTEMS - PAPERS - Fault-Tolerant VLSI Systems - Fault-Tolerant Evolvable Hardware Using Field-Programmable Transistor Arrays
Keymeulen
D
Zebulum
R S
Jin
Y
Stoica
A
Resumen
No disponible
PÁGINAS
pp. 305 - 316
NÚMERO
Volumen: 49 Número: 3 Parte: 0 (2000)
MATERIAS
INGENIERÍA Y CONSTRUCCIÓN CIVIL
REVISTAS SIMILARES
Applied Sciences
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
Artículos similares
SPECIAL SECTION -- FAULT-TOLERANT VLSI SYSTEMS - PAPERS - Fault-Tolerant VLSI Systems - What Designers of Microelectronic Systems Should Know About Arrays Spared by Rows and Columns
Acceso
LaForge, L E
Pág. 251 - 272
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
SPECIAL SECTION -- FAULT-TOLERANT VLSI SYSTEMS - PAPERS - Fault-Tolerant VLSI Systems - Software-Implemented EDAC Protection Against SEUs
Acceso
Shirvani, P P; Saxena, N; McCluskey, E J
Pág. 273 - 284
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
SPECIAL SECTION -- FAULT-TOLERANT VLSI SYSTEMS - FEATURES - Information for Readers and Authors
Acceso
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
SPECIAL SECTION -- FAULT-TOLERANT VLSI SYSTEMS - PAPERS - Commentary and Perspective - Commentary: Interconnection of Massive Numbers of Paths
Acceso
Plait, A O
Pág. 317 - 318
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
SPECIAL SECTION -- FAULT-TOLERANT VLSI SYSTEMS - PAPERS - Commentary and Perspective - Commentary -- Software: Metrics Mentality versus Statistical Mentality
Acceso
Healy, J D
Pág. 319 - 321
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
Revistas destacadas
Infrastructures
Informed Infraestructure
BiT
Revista de la Construcción
Ver todas las revistas