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IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY

ISSN: 0018-9529   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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11 artículos asociados

Volumen 52 Número 3 Parte 0 Año 2003

Balan, A. O. Traldi, L.
Pág. 289 - 295  

Barnett, T. S. Singh, A. D. Nelson, V. P.
Pág. 296 - 300  

Beeson, S. Andrews, J. D.
Pág. 301 - 310  

Biswas, A. Sarkar, J. Sarkar, S.
Pág. 311 - 318  

Carrasco, J. A.
Pág. 319 - 329  

Lee, J. Chapin, S. J. Taylor, S.
Pág. 330 - 339  

Levitin, G.
Pág. 340 - 348  

Richelli, A. Colalongo, L. Kovacs-Vajna, Z. M.
Pág. 349 - 353  

Shieh, S.-P. Tsai, Y.-C. Huang, Y.-L.
Pág. 354 - 366  

Shmueli, G.
Pág. 367 - 372  

Yang, S. K.
Pág. 373 - 383