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IEEE TRANSACTIONS ON KNOWLEDGE AND DATA ENGINEERING

ISSN: 1041-4347   Frecuencia: 6   Formato: Impresa

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26 artículos asociados

Volumen 15 Número 4 Parte 0 Año 2003

Lee, C.-H. Chen, M.-S. Lin, C. R.
Pág. 1004 - 1017  

Kemme, B. Pedone, F. Alonso, G. Schiper, A. Wiesmann, M.
Pág. 1018 - 1032  

Wang, Y.-F.
Pág. 1033 - 1036  

Chen, L. Tokuda, N.
Pág. 1037 - 1042  

Hansen, S. L. Mukherjee, S.
Pág. 1043 - 1044  

Vu, K. Hua, K. A. Tavanapong, W.
Pág. 1045 - 1049  

Yang, Q. Zhang, H. H.
Pág. 1050 - 1053  

Yi, X. Ye, Y.
Pág. 1054 - 1054  

Dovier, A. Piazza, C.
Pág. 1055 - 1056  

Scott, D. Sharp, R.
Pág. 771 - 783  

Haveliwala, T. H.
Pág. 784 - 796  

Patel-Schneider, P. F. Simeon, J.
Pág. 797 - 812  

Ninan, A. G. Kulkarni, P. Shenoy, P. Ramamritham, K. Tewari, R.
Pág. 813 - 828  

Cui, H. Wen, J.-R. Nie, J.-Y. Ma, W.-Y.
Pág. 829 - 839  

Damiani, E. De Capitani di Vimercati, S. Paraboschi, S. Samarati, P.
Pág. 840 - 854  

Agrawal, R. Srikant, R.
Pág. 855 - 870  

Li, Y. Bandar, Z. A. McLean, D.
Pág. 871 - 882  

Bansal, A. K. Woolverton, C. J.
Pág. 883 - 894  

Chan, E. P. F.
Pág. 895 - 910  

Evgeniou, T. Pontil, M. Papageorgiou, C. Poggio, T.
Pág. 911 - 920  

Biazzo, V. Giugno, R. Lukasiewicz, T. Subrahmanian, V. S.
Pág. 921 - 939  

Hou, J. Zhang, Y.
Pág. 940 - 951  

Zhong, N. Yao, Y. Y. Y. Ohshima, M.
Pág. 952 - 960  

Larson, P.
Pág. 961 - 972  

Burns, R. Stockmeyer, L. Long, D. D. E.
Pág. 973 - 984  

He, M. Jennings, N. R. Leung, H. F.
Pág. 985 - 1003