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TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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8 artículos asociados

Volumen 53 Número 1 Parte 0 Año 2011

Enrique del Castillo, Bianca M. Colosimo
Pág. 1 - 15  

Mark Fielding, David J. Nott, Shie-Yui Liong
Pág. 16 - 28  

P.C. Young, M. Ratto
Pág. 29 - 43  

Ricardo A. Maronna
Pág. 44 - 53  

Ryan J. Tibshirani, Holger Hoefling, Robert Tibshirani
Pág. 54 - 61  

Bradley Jones, Christopher J. Nachtsheim
Pág. 62 - 71  

K. Krishnamoorthy, Avishek Mallick, Thomas Mathew
Pág. 72 - 83  

Changliang Zou, Fugee Tsung
Pág. 84 - 97