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TECHNOMETRICS

ISSN: 0040-1706   Frecuencia: 4   Formato: Impresa

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10 artículos asociados

Volumen 51 Número 4 Parte 0 Año 2009

Ying Hung, Roshan Joseph, Shreyes N. Melkote
Pág. 354 - 365  

Jason L. Loeppky, Jerome Sacks, William J. Welch
Pág. 366 - 376  

Jonathan A. Cumming, Michael Goldstein
Pág. 377 - 388  

Matthew A. Taddy, Herbert K.H. Lee, Genetha A. Gray, Joshua D. Griffin
Pág. 389 - 401  

María Jesús Bayarri García, James O. Berger, Eliza S. Calder, Keith Dalbey, Simon Lunagomez, Abani K. Patra, E. Bruce Pitman, Elaine T. Spiller, Robert L. Wolpert
Pág. 402 - 413  

Jonathan Rougier, Serge Guillas, Astrid Maute, Arthur D. Richmond
Pág. 414 - 424  

Leonardo S. Bastos, Anthony O'Hagan
Pág. 425 - 438  

Shuchun Wang, Wei Chen, Kwok-Leung Tsui
Pág. 439 - 451  

Sebastien Da Veiga, Francois Wahl, Fabrice Gamboa
Pág. 452 - 463  

Gang Han, Thomas J. Santner, Jeremy J. Rawlinson
Pág. 464 - 474